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Scigentec Calpas T

粒子經(jīng)過單探頭時,粒子背面的黑點(diǎn)無法被攝像頭“看”到,對于追求粒子表面所有黑點(diǎn)數(shù)量的客戶,Calpas T雙探頭型樹脂雜質(zhì)掃描儀值得了解。

Calpas T-雙探頭

適合:

所有種類的粒子檢測-半透明、透明、不透明

自帶挑選功能

立即預(yù)定

聯(lián)系我們:

徐先生

13801777130

021-61455229

[email protected]

產(chǎn)品簡介

Calpas T-雙探頭

適合:

粒子檢測-半透明、透明、不透明

可帶挑選功能

用其它方式測量粒子的外觀,粒子在經(jīng)過攝像頭時,并不能100%保證粒子全身都能被攝像頭覆蓋,而Calpas T解決了這個問題。

技術(shù)參數(shù)

Calpas T-雙探頭

詳細(xì)參數(shù)請與我司聯(lián)系獲取

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