紅外線膜厚計(jì)需要根據(jù)測量對象物選定機(jī)種、干涉濾波器和檢測器等部件。為此需要豐富的知識和經(jīng)驗(yàn),通過上述選定,可以測量以往不能測量的對象物。此外,測量的范圍也不僅僅是厚度,任何與產(chǎn)品物質(zhì)的量有關(guān)的性能理論上都可以通過建立相關(guān)性來測量。
紅外線膜厚儀的部件性能日益提高,并不斷提供新產(chǎn)品,與微處理器技術(shù)革新同步前進(jìn)。最近不僅僅是有機(jī)被覆磷酸、連硅酮(SiO2)和氧化鋁(Al2O3)等無機(jī)氧化物、金屬上的涂層、膜上的蒸鍍膜也可以通過材料組合測量了。
今后也將密切和各位用戶進(jìn)行合作并交換信息,進(jìn)一步提高這些裝置的性能和功能,根據(jù)目的提供新機(jī)種,繼續(xù)擴(kuò)大在各領(lǐng)域的用途。
應(yīng)
用
知
識
屋